影响涂层测厚仪测量值准确性的因素

1、基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

基体金属的导电性能对测量结果有影响，基体金属的电导率与其材料组成和热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

2、基体金属厚度

每个仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于此厚度，测量不受基体金属厚度的影响。

3、边缘效应

该仪器对样品表面形状的陡度很敏感。因此，在试样边缘或内角附近测量是不可靠的。

4、 曲率

试样的曲率对测量有影响。这种效应总是随着曲率半径的减小而增大。因此，弯曲试样表面的测量是不可靠的。

5、试件的变形

头部使软盖标本变形，因此无法在这些标本上测量到可靠的数据。

6、表面粗糙度

基体金属和涂层的表面粗糙度对测量有影响。随着粗糙度的增加，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。在每次测量中，应增加不同位置的测量次数，以克服这一偶然误差。如果基体金属是粗糙的，也必须从粗糙度相似的未涂层基体金属试样上取下几个位置，或者，在涂层用不腐蚀基体金属的溶液溶解后，必须再次检查仪器的零点。

7、附着物质

该仪器对防止探针与覆盖面紧密接触的粘着材料很敏感。因此，必须除去附着物，以确保探头与试件表面直接接触。

8、 测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

9、测头的取向

测头的位置对测量有影响。测量时，测头应垂直于样品表面。